Kilopass 安全非易失性存儲器IP用于中芯國際 65/55/40 納米低漏電CMOS 邏輯工藝的手機和電子消費品系統(tǒng)級芯片可實現(xiàn) 10 年使用壽命

半導體邏輯非易失性存儲器 (NVM) 知識產(chǎn)權 (IP) 領先提供商 Kilopass Technology Inc.與世界領先的集成電路晶圓代工企業(yè)中芯國際集成電路制造有限公司（“中芯國際”，紐交所代號：SMI，港交所股份代號：981）宣布，Kilopass IP 已成功完成中芯國際 65、55、40 納米低漏電(LL) CMOS 工藝技術的 JEDEC 三批資格認證。Kilopass 為設計師提供了抗干擾、高度可靠、基于中芯國際工藝的非易失性存儲器IP。JEDEC 資格認證可為設計師提供保證：用于儲存應用程序處理器、微控制器 (MCU) 和射頻收發(fā)器的混合信號修調(diào)數(shù)據(jù)、啟動碼、安全密鑰的 Kilopass IP 將保障數(shù)據(jù)運行及保存超過 10 年。

中芯國際設計服務中心副總裁湯天申表示：“中芯國際 65、55、40 納米低漏電邏輯工藝是手機和電子消費品客戶的首選。我們的低漏電工藝 Kilopass NVM IP 為家用電子消費品和手機系統(tǒng)級芯片設計師提供了另一種滿足其高產(chǎn)量設計的 NVM IP 選擇。低漏電工藝不僅性能更高，功耗更低，成本效益更高，而且提供更多設計可能�！�

中芯國際低漏電CMOS 工藝方面的 JEDEC 資格認證程序要求 Kilopass IP 接受標準高溫工作壽命 (HTOL) 和高溫儲存壽命 (HTSL) 測試。通過了這兩項測試，系統(tǒng)級芯片設計師可以確保 Kilopass IP 足以維持運行 10 年以上。HTOL 資格認證測試是在存儲器承受高壓以及 125 攝氏度溫度時，進行一次連續(xù)讀取運行。用于評估設備可靠性的另一項 JEDEC 標準測試是 HTSL，將 Kilopass IP 置于 150 攝氏度（無偏）下烘烤 1000 小時。烘烤期間，分別在 0、168、500、1000 小時時讀取 NVM 存儲器內(nèi)容，確認數(shù)據(jù)保留度。

Kilopass 市場行銷副總裁 Linh Hong 表示：“我們很高興與中芯國際繼續(xù)合作，確保我們客戶的 OTP 解決方案能夠脫穎而出，更快投入市場。低功耗 65、55、40 納米是混合信號技術的關鍵節(jié)點。在無線連接和視頻解碼產(chǎn)品等諸多領域，這些節(jié)點的 OTP 需求量在不斷上升�！�