中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀檢測儀器由光學照明系統(tǒng)、光學成像系統(tǒng)、垂直掃描控制系統(tǒng)、信號處理系統(tǒng)、應用軟件構成。以白光干涉技術為原理，能夠以優(yōu)于納米級的分辨率，非接觸測量樣品表面形貌，主要用于表面形貌紋理，微觀結構分析，用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)，廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等領域。
性能特點
1、輪廓/粗糙度測量功能：
高到亞納米級的高度分辨率，在寬度、高度、角度、直徑等各類輪廓尺寸測量功能以及表征表面整體加工質(zhì)量的粗糙度等指標；
2、自動化測量功能：
自動單區(qū)域測量/自動多區(qū)域測量/自動拼接測量；
3、復合型掃描算法：
集合了PSI高精度&VSI大范圍雙重優(yōu)點的EPSI掃描算法，有效覆蓋從超光滑到粗糙等所有類型樣品，無須切換，操作便捷；
4、雙重防撞保護功能：
Z軸上裝有防撞機械電子傳感器、軟件ZSTOP防撞保護功能，雙重保護，多一重安心；
5、環(huán)境噪聲檢測功能：
環(huán)境噪聲評價功能能夠定量檢測儀器當前所處環(huán)境的綜合噪聲數(shù)值，對儀器的調(diào)試、測試可靠性提供指導；
6、完善的售后服務體系：
設備故障遠程&現(xiàn)場解決，軟件免費升級。
SuperViewW1白光干涉儀檢測儀器對高深寬比的溝槽結構，可以快速而準確的得到理想的測量結果。其重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統(tǒng)的配合下，分辨率可達0.1nm。
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